상세 보기
공정 변동 보상기능을 가지는 저비용 온도-디지털 변환기
A Low-Cost Temperature-to-Digital Converter with Process Variation Compensation
- 이정;
- 최예원;
- 김종선
초록
본 논문에서는 공정 변동으로 인한 온도 측정 오차를 효과적으로 보상할 수 있는 저비용 온도-디지털 변환기 (Temperature-to-Digital converter: TDC)를 제안한다. 제안된 TDC는 BGR 전압/전류 트리밍 (Trimming) 기반의 온-칩 셀프-캘리브레이션(Self-Calibration) 기술을 적용하여, 오프-칩 캘리브레이션 과정 없이도 공정 변동으로 인한 출력 온도 코드의 변화를 최소화할 수있다. 제안하는 온-칩 셀프-캘리브레이션 기능의 TDC는 180-nm CMOS 공정으로 설계되었으며, Spectre 시뮬레이션 결과 공정변동으로 인한 온도 오차가 최대 33.9℃에서 4.3℃ (@ 120℃)로 크게 감소함을 확인하였다.
키워드
Temperature-to-Digital Converter; Temperature Sensor; On-chip Calibration; Trimming; two-point calibration
- 제목
- 공정 변동 보상기능을 가지는 저비용 온도-디지털 변환기
- 제목 (타언어)
- A Low-Cost Temperature-to-Digital Converter with Process Variation Compensation
- 저자
- 이정; 최예원; 김종선
- 발행일
- 2025-06
- 유형
- Y
- 저널명
- 전기전자학회논문지
- 권
- 29
- 호
- 2
- 페이지
- 205 ~ 211